FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列菲希爾X熒光射線測厚儀是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾X熒光射線測厚儀采用了基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X熒光射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量超薄杜策，例如：裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

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