FISCHERSCOPE  X-RAY XDL210菲希爾X射線測厚儀

菲希爾X射線測厚儀FISCHER技術(shù)參數(shù)表如下：

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210

X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。