Fischer Dualscope MPOR

Fischer Dualscope MPOR

PERMASCOPE MP0R和PERMASCOPE MP0R-FP 帶有一個(gè)集成探頭或一個(gè)延長型探頭，適用于測量鐵基材上的涂鍍層厚度。

DUALSCOPE MP0R和DUALSCOPE MP0R-FP帶有一個(gè)集成探頭或一個(gè)延長型探頭，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。

ISOSCOPE MP0R帶有一個(gè)集成探頭，專為高精度測量幾乎所有非鐵基材上的較薄涂層而設(shè)計(jì)。

DUALSCOPE MP0RH-FP帶有一個(gè)延長型探頭，專為高精度測量幾乎所有非鐵基材上的較厚涂層而設(shè)計(jì)。

德國Fischer儀器公司以其良好的準(zhǔn)確性和可靠性已經(jīng)遍布全球各個(gè)工業(yè)和科學(xué)研究領(lǐng)域。FISCHER 更會用嚴(yán)苛的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和持續(xù)的發(fā)展策略為主旨，繼續(xù)開發(fā)和生產(chǎn)技術(shù)*、簡單實(shí)用的測量系統(tǒng)和軟件，更好地為廣大客戶服務(wù)。

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