菲希爾x射線測厚儀X-ray XDL 240

FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術，能提供性能和靈活性。由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統(tǒng)中。

 菲希爾x射線測厚儀X-ray XDL 240

XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。
FISCHERSCOPE  X-RAY XDL  240 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動方
式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層。
典型的應用領域有：
測量大規(guī)模生產的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動測量，如測量印刷線路板
分析電鍍溶液
XDL 240 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。
比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了 FISCHER *基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣
品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板。