菲希爾江蘇代理x熒光射線測(cè)厚儀XDL230

菲希爾江蘇代理x熒光射線測(cè)厚儀XDL230

XDL 230 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

XDL 230測(cè)厚儀產(chǎn)品用處

fischer x熒光射線測(cè)厚儀的典型的應(yīng)用范疇有：

● 測(cè)量大范圍消費(fèi)的電鍍部件

● 測(cè)量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

● 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功用性鍍層

● 測(cè)量印刷線路板

● 剖析電鍍?nèi)芤?/span>

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用普遍的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及資料剖析儀。它適用于無(wú)損丈量鍍層厚度、資料剖析和溶液剖析，同時(shí)還能檢測(cè)大范圍消費(fèi)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL230 有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需求經(jīng)常校準(zhǔn)儀器

比例接納器能完成高計(jì)數(shù)率，這樣就能夠停止高精度丈量。

由于采用了FISCHER完整根本參數(shù)法，因而無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有規(guī)范片的狀況下停止丈量和剖析。

FISCHER產(chǎn)品在中國(guó)地區(qū)的銷售、安裝、維修、備品備件及技術(shù)咨詢等業(yè)務(wù)。

FISCHER生產(chǎn)的涂鍍層測(cè)厚儀主要分為：X射線涂鍍層測(cè)厚及材料分析儀、β射線測(cè)厚儀、電渦流法測(cè)厚儀、電磁感應(yīng)測(cè)厚儀、庫(kù)侖法（多層鎳電位差）測(cè)厚儀，除此之外還有包括 微納米硬度測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀、鐵素體含量測(cè)試儀、孔隙率測(cè)試儀 和 針孔測(cè)試儀 等在內(nèi)的多種測(cè)試儀器。